影响纳米涂层厚度测试仪测量值精度的因素有哪些？

1、集体性质

磁性测厚受基体金属磁性变化的影响（实际上，低碳钢的磁性变化可视为轻度）。为避免热处理和冷处理因素的影响，仪器应使用与检测基体金属特性相同的标件进行校准，或使用待涂样品进行校准。此外，金属的导电性对测量有影响，基体金属的导电性与材料成分和热处理工艺有关。仪器应使用与试件基体金属性质相同的标准件进行校准。

此外，试件的粗糙度、曲率、变形、所有边缘效应都可能导致涂层厚度测试结果不可靠。

2、测量环境

在测量过程中，周围电气设备产生的强磁场会严重干扰磁测厚。

3、操作方法

在测量过程中，测量头的压力会直接影响测量读数，测量头的放置方式也会对测量结果产生一定的影响。使用仪器时，测量头应垂直于样品表面。

注：涂层厚度试验规范如下

涂层测厚的基本流程包含预处理、校对仪器、测试和结果评定。

样品预处理：确保测试样品表面干净整洁，粗糙度符合要求、曲率等。

校准仪器：纳米涂层厚度测试仪在测试仪必须进行零点校准和多点校准。

实验：测量时，侧头与实验面竖直触碰，轻轻轻按侧头定位套，屏幕显示涂层厚度测量值。

结果评价：在选定的样品面积中测量至少5分；分别计算他们的平均值，精确到0.5mm。